Новое российское решение для автоматического контроля качества микросхем повышает точность до 96%
В России разработан перспективный комплекс контроля качества микросхем на основе алгоритмов компьютерного зрения. Система, созданная совместно стартапом «ИИ-Тех» и Зеленоградским нанотехнологическим центром при поддержке «Стартап-студии МИЭТ», показала точность до 96% при выявлении дефектов кристаллов после резки пластин.
Техническая реализация основана на нейросетевых алгоритмах с использованием библиотек OpenCV и PyTorch. Комплекс включает микроскоп высокого разрешения, моторизированный столик, сервер обработки данных и специализированное программное обеспечение. Оборудование и ПО обнаруживает микротрещины, царапины и геометрические искажения.
Как отмечают разработчики, применение решения на основе элементов искусственного интеллекта позволяет исключить субъективность традиционного визуального контроля. Прототип успешно прошел испытания на производственной линии ЗНТЦ (точность составила 96%,такой показатель недостижим при визуальном контроле). Осенью 2025 года ведутся переговоры с компанией «Д-Микро», направленные на интеграцию системы в электронные микроскопы их разработки.
Дальнейшее развитие проекта будет сосредоточено на полной автоматизации сканирования и реализации механизма дообучения нейросети в производственных условиях.
